【仪器型号】：Smartlab SE
【制造厂商】：日本理学
【开放培训】：未开放
【仪器状态】：工作中

【送样须知】  

不可测试样品：易吸潮的样品无法测试；

可测样品送样要求：粉末、薄膜或块材；

样品需提供的信息：主要成分、实测范围、测试速率等。粉末样品的要求：尽量研磨细，质量在50毫克以上；块材和薄膜样品的要求：有平整的表面，至少有一条边的尺寸不小于5毫米；

常规样品承诺完成时间：2-4天

【主要技术指标】  

Cu靶

【仪器功能及附件】  

高温装置： 室温-1500℃；薄膜装置、晶粒度、结晶度、晶格结构指标化、物相检索、定量分析计算等。

【仪器使用范围】  

X射线衍射广泛应用于地矿、材料、物理、化学、药学、冶金科学等。可以分析粘土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料，超导材料、纳米材料，超晶格材料和磁性材料等物相和晶体结构，材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状等各种固体。

【备注信息】  

田老师 测试中心202室：电话:6690425